康奈尔大学(Cornell University)的研究人员在2018年制造了一款超高功率检测器，该检测器使用了一种算法驱动的过程称为typchography，将当前最先进的电子显微镜的分辨率提高了三倍。突破性突破在此过程中创下了记录。该机器的一个警告是，它仅对只有几个原子厚的超薄样品起作用。
通过一些康奈尔相同的研究人员的领导的一个新的小组具有击败通过利用使用的进一步改进的3D重建算法新电子显微镜像素阵列检测器(EMPAD)中的两种因素的2018记录。该项目的研究人员说，分辨率是如此精细地调整，唯一剩下的模糊是来自样品本身中原子的热抖动。研究人员团队由大卫穆勒(David Mueller)领导，他说，新显微镜不仅创造了新记录，而且还创造了新的记录。它定义了一个新的制度，它将有效地成为解决方案的最终限制。
穆勒还说，这一发展为科学家长期以来一直希望做的事情开辟了许多新的测量可能性。这一突破解决了一个长期存在的问题，消除了样品中光束的多次散射，这是科学家汉斯贝特(Hans Bethe)在1928年定义的，过去阻碍了科学家解决该问题。
使用重叠散射图案进行的气相色谱扫描是材料样品，并寻找重叠区域的变化。穆勒说，科学家们正在追逐斑点图案，它们看起来很像猫喜欢攻击的激光指示器图案。科学家们希望了解图案如何变化，并可以计算出引起该图案的物体的形状。
检测器略微散焦，并且光束很宽，可以捕获最大范围的数据。团队开发的复杂算法可重构图案，从而产生极其精确的图像，并达到皮米级的精度。